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电子显微镜

互译词汇 (中文-英文-日文)

介绍中文、英文、日文的互译词汇。请在撰写论文和翻译时作为参考。

器械名

中文英文日文
电子显微镜electron microscope電子顕微鏡
扫描电子显微镜scanning electron microscope (SEM)走査型電子顕微鏡
透射电子显微镜transmission electron microscope (TEM)透過型電子顕微鏡
场发射型透射电子显微镜field emission-type transmission electron microscope電界放出型透過電子顕微鏡
场发射型扫描电子显微镜field emission-type scanning electron microscope電界放出型走査電子顕微鏡
超高压电子显微镜ultrahigh-pressure electron microscope超高圧電子顕微鏡
超高分辨率扫描电子显微镜ultrahigh-resolution scanning electron microscope超高分解能分析走査型電子顕微鏡
变压扫描电子显微镜variable-pressure scanning electron microscope可変圧走査型電子顕微鏡

零部件

中文英文日文
目镜eyepiece
ocular lens
eye lens
接眼レンズ
物镜objective lens
objective
対物レンズ
聚光透镜focusing lens
condenser lens
condenser
集束レンズ
电子枪electron gun電子銃
光源light source光源
扫描信号发生器scan signal generator
scanning signal generator
走査信号発生器
初级电子束primary electron beam1次電子ビーム
高压电源high-voltage power supply
high-voltage power source
高圧電源
偏转线圈deflection coil
deflecting coil
偏向コイル
电子透镜electron lens電子レンズ
二次电子secondary electron2次電子
样本试验台sample stage試料ステージ
真空泵vacuum pump真空ポンプ

技术用语

中文英文日文
低温电子显微镜cryo-electron microscopy (cryo-EM)クライオ電子顕微鏡法
冰冻的部分frozen section凍結切片
固定术fixation固定
低温切割机cryostatクリオスタット
クライオスタット
倍率magnification倍率
快速冷冻rapid freezing急速凍結法
冻结断裂freeze-fractureフリーズフラクチャー
冻结蚀刻freeze-etchingフリーズエッチング
戊二醛glutaraldehydeグルタルアルデヒド
薄切片sectioning
thin sectioning
薄切
固定细胞to fix cells細胞を固定する
用显微镜观察AAAto observe, with a microscope, AAAAAAを顕微鏡で観察する
在试验台上设置样本to set the sample on the stageサンプルをステージにセットする

技术信息链接

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产品信息链接

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销售店链接

专利信息链接

为您介绍查询专利时方便的网站。请在撰写论文或调查专利侵权时作为参考。

商标信息链接

为您介绍查询商标时方便的网站。请在探讨新产品的命名或调查商标侵权时作为参考。

  • 日本国特许厅 - 名称检索 - ※检索方法:请将要查询的用语用日文的片假名 (如,ハナコ )输入到链接的“名称”栏中 ,并在“类似群号”栏中输入“11C02”(11C02是“電子応用機械器具及びその部品”的类似群号),然后点击[检索]进行检索。接着,请点击[一览显示]以显示检索结果一览。类似群号的查询方法请参考下文。
  • 产品/服务名检索 - 日本国特许厅 - ※类似群号的查询方法:请在链接的产品服务名栏中输入“電子顕微鏡”(只能用全角),然后点击[检索]进行检索。接着,请点击[一览显示] 以显示检索结果一览。从显示的一览中可找到与诊断装置相关的产品服务名“電子顕微鏡”等。在其右侧可找到类似群号(如,“11C02”)。
  • 类似产品/服务审查标准(对应国际分类第10-2016版)(PDF) ※检索方法:在链接的pdf文档中对类似群号进行搜索,可搜索到对应的商品/服务。
  • 美国专利局 - 商标检索 - ※点击链接的“Trademark Electronic Search System (TESS)”的[Search Trademarks]按钮。然后,点击“Word and/or Design Mark Search(Structured)”。在第一个Search Term栏 中输入“009”,在该旁边的Field选框中选择“International Class”,将Operator设为“AND”。将要查询的用语用英文(如,robert)输入到第二个Search Term栏 中,并在该旁边的Field选框中选择“Full Mark”,并点击[Submit Query],则显示●●相关领域的商标一览表 。有关International Class的查询方法 ,请参考下文。
  • 美国的国际分类的检索 - 美国专利局 - ※International Class的查询方法 :在链接的 Enter Search Terms栏中输入 “electron microscope”并按回车键 。作为检索结果会显示三位数的分类号 (如,009 [Electron microscopes]),可将该分类号作为检索上述美国商标的 “International Class”使用。
  • WIPO的国际分类检索 - WIPO(Nice Classification) -

外观设计信息链接

为您介绍查询外观设计时方便的网站。请在探讨新产品的外观设计或调查外观设计侵权时作为参考。

  • 日本国特许厅 - 关键词检索 - ※检索方法:请在链接的画面中,在“检索项目”选框中选择“有关外观设计的物品”,将要查询的用语(如:電子顕微鏡)输入到“关键词检索”的检索窗口中,然后点击[检索]进行检索。接着,请点击[一览显示]以显示检索结果一览。

编纂合作单位